OMT‑1980HC 高倍视频显微镜｜光通讯行业检测方案
2026-09-04(0)次浏览
OMT‑1980HC 高倍视频显微镜|光通讯行业检测方案
OMT‑1980HC 为高倍率连续变倍单筒视频显微镜,4K 成像,主打更高光学放大倍率,可配环形光、斜射光源,适合光通讯器件精细外观筛查;属于视频数码系统,非金相显微镜,不做切片剖面、IMC 分析、球坑涂层测厚,和 OMT‑4060HC、ME700 金相形成梯队搭配。
光通讯主要检测对象
FA 光纤阵列、MT‑FA 多芯阵列:FA 端面细小划痕、麻点、溢胶、微小碎屑、陶瓷基座细微崩损;重点看纤芯周边区域外观。
VCSEL、光芯片、PD 探测器裸片:芯片表面颗粒、污渍、电极微小异物、划道、钝化层外观初检。
TO‑CAN、蝶形 TOSA/ROSA 器件:透镜表面微小脏点、金丝引线、焊盘微小锡珠、引脚细微损伤。
MPO/MT、陶瓷插芯:插芯端面细微缺陷复判,连接器定位孔毛刺、内壁异物。
光器件陶瓷管壳、滤波器基座:微小针孔、表面点状缺陷、抛光残留。
核心硬件配置
4K 工业相机,HDMI 直连显示器,可接电脑完成图像采集测量;
高倍连续变倍镜头,光学变倍范围 15‑220×,相比普通型号上限倍率更高,捕捉微米级表面缺陷;
标配环形 LED 光源,可选斜射光源,突出凹凸颗粒、细微划痕;可按需选配简易同轴光源;
软件功能:拍照录像、距离测量、标注、图像存档、PDF/Excel 报告导出;
重型升降调焦支架,行程大,适配 TO 腔体、FA 工装、各类高低差器件。
产品核心优势
✅ 倍率上限更高,针对光芯片、FA 纤芯周边细小缺陷,相比常规视频显微镜看得更细,适合研发实验室、复判工位。 ✅ 屏幕成像,多人同时观察,减轻长期目视疲劳,无尘车间友好。 ✅ 光源灵活切换:环形光看颗粒凸起;斜射光凸显浅划痕、麻点。 ✅ 整套结构紧凑,可搭配 FA、插芯专用定位工装,样品快速定位。
⚠️能力边界
属于视频单筒系统,不是金相光学系统,DIC 微分干涉缺失,无法分辨极浅亚微米级纤芯崩口,该类严苛测试需要 ME700/RX43N 金相显微镜。
仅做表面外观观察,不能做切片剖面、胶层缝隙、IMC 金属间化合物分析,也不能做球坑涂层测厚。
和 OMT‑4060HC 选型区分
表格
| 型号 | 核心特点 | 适合场景 |
|---|---|---|
| OMT‑1980HC | 高倍率,环形 / 斜射光为主,倍率上限 220× | 研发复判、光芯片、FA 纤芯周边细小缺陷筛查 |
| OMT‑4060HC | 同轴 + 环形双光源,擅长高反光抛光面 | FA 端面、TO 金属外壳、陶瓷插芯镜面划痕麻点 |
典型使用场景
研发实验室:FA、光芯片失效件外观复判,小批量样品精细外观检查。
产线 QC 复判工位:初检不良样品二次确认。
来料检验:TO、陶瓷管壳、光芯片来料微小外观缺陷筛查。
整套搭配建议
产线大批量镜面工件:OMT‑4060HC 同轴视频显微镜
研发复判、光芯片、FA 精细外观:OMT‑1980HC 高倍视频显微镜
微崩口、切片剖面、胶层缝隙:ME700 倒置编码金相显微镜
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