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OMT‑4060HC 同轴光 4K 视频显微镜|光通讯行业检测方案

2026-09-04(0)次浏览

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OMT‑4060HC 同轴光 4K 视频显微镜|光通讯行业检测方案

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OMT‑4060HC 属于单筒同轴光视频显微镜,非金相显微镜,搭载 4K 工业相机,同轴 + 环形双光源,重点观测反光、抛光、金属镀层、陶瓷、玻璃类光通讯器件表面缺陷苏州欧米特...。适合产线快速外观筛查,不做切片金相、球坑涂层测厚;和 ME700、RX43N 金相显微镜形成高低搭配。

光通讯主要检测对象

  1. FA 光纤阵列、MT‑FA:FA 端面抛光面划痕、麻点、脏污、崩边、胶溢、表面颗粒;陶瓷基座表面缺陷。

  2. TO‑CAN、蝶形 TOSA/ROSA:金属管壳、透镜镜面、焊盘、金丝表面;同轴光适合观察光亮金属外壳表面微小划伤、压痕。

  3. 陶瓷插芯、MPO/MT 连接器:插芯端面抛光面,识别微小划痕、凹坑、污渍、碎屑。

  4. 光器件陶瓷管壳、滤波器基座:光亮陶瓷表面裂纹、针孔、抛光不良、异物。

  5. VCSEL、光芯片裸片外观初检:芯片表面污渍、划伤、电极外观检查。

核心硬件配置

  • 4K 高清工业相机,HDMI 直出显示器,可接电脑拍照测量;

  • 同轴光 + 环形光双模式照明:同轴光对抛光镜面、金属、高反光陶瓷效果突出,抑制强反光,把浅划痕、微小麻点显现出来;环形光看凹凸异物、颗粒;

  • 连续变倍镜头,变倍范围:12‑180×;

  • 软件功能:拍照录像、距离测量、标注、图片存档、PDF 报告导出;

  • 重型升降支架,大行程调焦,适配高低不同封装器件。

产品核心优势

同轴光适配高反光工件:FA 端面、陶瓷插芯、TO 金属外壳这类抛光反光面,普通体视容易过曝,同轴光可以看清浅划痕、微麻点。 ✅ 屏幕观测,产线工位友好,多人同时观察,降低人眼疲劳。 ✅ 切换光源简单:镜面抛光件开同轴;看颗粒凹凸缺陷切换环形光源。 ✅ 结构紧凑,无尘车间、产线抽检工位可直接摆放。

⚠️能力边界

  1. 属于视频单筒显微镜,不是金相系统,不能做切片剖面、IMC 金属间化合物、球坑涂层测厚;微米级以下极浅纤芯崩口分辨能力弱,该类测试需要 ME700/RX43N 金相显微镜搭配 DIC 微分干涉。

  2. 只做表面外观,不具备切片分析能力。

光通讯典型使用场景

  1. FA/MT‑FA 量产产线:端面抛光后外观抽检,筛查划痕、麻点、溢胶。

  2. TO‑CAN、蝶形器件来料检验:透镜、管壳表面划伤、压伤、脏污筛查。

  3. 陶瓷插芯、MPO 连接器端面复判工位。

  4. 研发实验室失效件初筛,初判外观缺陷,再送金相显微镜做深度分析。

选型搭配建议

  • 产线大量外观筛查:OMT‑4060HC 同轴视频显微镜

  • 需要看微米级微崩口、切片剖面、胶层缝隙:ME700 倒置金相显微镜


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