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南通MT-F1000银浆爬坡检测显微镜类别:半导体显微镜

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产品详情

全新银浆(爬胶)高度45度检测系统集多项创新于一身,从外观到性能都紧跟国际领先设计风向,致力于拓展工业领域新格局。秉承不断探索、不断超越的品牌设计理念,为客户提供完善的工业检测解决方案。

银浆(爬胶)高度45度检测系统是半导体银浆silver paste高度专业检测仪器,也称之为银浆厚度检测仪;在半导体芯片加工中,需要对芯片die中的晶圆wafe进行银浆固定,这就需要对固定工艺进行检测,已判断银浆的高度或厚度是否达到指定的技术指标;此系列检测仪是此工艺专业检测仪器,通过显微镜非接触图像识别的方式进行观察及量测,配专业相机、软件及固定治具;快速有效的检测此工艺技术指标;此系列产品还广泛用于PCB行业、LED封装行业、金属行业、材料加工行业等;

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产品名称

产品主要组成配置

产品主要组成配置型号

相关参数

银浆(爬胶)高度45度检测系统
MT-F1000

 

高清精密卡位镜体

OMT-10D

摄像接口1X;光学刻度倍数0.7~4.5X

高清图像采集系统

OMT-630CF

有效像素数字600万;分辨率3072*2048

图像编辑及测量系统

OMT-1.5D

功能:观察、拍照存储、录像、自动寻边、量测、数据导出、扫描上传、景深融合、大图拼接、支持开发对接上传MES等功能

照明系统

OMT-60系列

长寿命、LED、冷光源、亮度可调

固定调节机构

圆形样品台

XY 两轴可调平台架以及一个 300mm 直径,可 360 度旋转的圆形平台

电脑主机

戴尔商务主机

戴尔商务主机

高清液晶显示器

21.5或24英寸以上屏幕

HMDI/VGA 1920*1080

数字高清连接线

USB3.0数据线

高清接口,USB3.0

尺寸标定板

图像尺寸校正片

厘米、毫米校正尺

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公司地址:苏州市工业园区胜浦路258号26栋厂房