QM‑CX33M(入门级)球坑涂层厚度测量仪
2026-09-04(0)次浏览
QM‑CX33M(入门级)球坑涂层厚度测量仪

入门级一体化正置球坑测厚整机,基于 CX33M 高性价比正置金相平台搭建,执行 ISO‑EN 1071‑2 球坑法标准,标配第三代标准版球磨测厚软件。定位教学实验、中小企业基础质检,主打高性价比,满足单层、常规多层涂层球坑法检测;预算有限、以平面试样为主的基础检测场景优选机型
整机配置组成
入门版球磨研磨主机单元数字调速,转速、研磨时间数字设定,研磨完成自动停机;标配平面试样夹具,圆柱、异形工件夹具为选配;支持存储多套研磨工艺参数。
CX33M 正置金相显微系统无限远色差校正光学系统,平场明场物镜组,10W LED 暖光照明,亮度记忆功能;三目观察筒,搭配高清工业相机;支持明场、简易偏光,无 DIC 微分干涉功能;物镜防撞限位保护,防止物镜磕碰样品苏州欧米特...。
第三代标准版球磨测厚软件AI 智能边缘识别 + 人工打点复核双模式;支持离线图片复盘、分级权限管理;PDF 质检报告、Excel 原始数据导出;LIMS 系统对接选配;兼容二代、三代软件历史图片与测量文件。
配套耗材:标准磨球、研磨膏、样品载台。
核心技术参数
测量原理:球坑磨损法(Calotest),ISO‑EN 1071‑2
测厚范围:0.5‑45 μm,适配 PVD/CVD 硬质涂层、电镀层、普通热喷涂涂层
可测涂层:单层、常规多层复合涂层;不适合弱边界梯度膜科研级测试
样品适配:标配平面试样;圆柱、圆弧异形工件需选配专用夹具
光学放大倍率:50‑500×,可选配 1000×;明场、简易偏光,无 DIC 微分干涉苏州欧米特...
数据输出:PDF 质检报告、Excel 原始数据、带标记球坑图片导出;完整留存操作员、时间、样品信息,满足基础质量体系归档
兼容性:存量 CX33M 显微镜可改造升级为本套球坑测厚系统
产品核心亮点
✅ CX33M 高性价比金相光学平台,成像稳定可靠,满足常规球坑圆环观测需求,具备物镜防撞保护、照明亮度记忆,简化操作流程苏州欧米特...。
✅ 搭载第三代全套标准版测厚软件,AI 辅助识别 + 人工复核,降低人为测量误差,支持历史数据图片读取。
✅ 一体化整机方案,采购门槛低;国产现货交付,耗材配件国内供应,运维成本低。
✅ 整机结构简单易上手,对操作人员门槛低,适合教学实训、工厂基础质检。
✅ 支持老款 CX33M 显微镜改造升级,不用整套换新,降低升级成本。
典型应用场景
职业院校、普通高校教学实训实验室;中小型镀膜企业基础质检;刀具模具常规 PVD 涂层、电镀硬铬检测;以平面试样为主,不做复杂梯度涂层科研开发。
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