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IR 透视红外线显微镜

2021-11-15(46)次浏览

  IR透视红外线显微镜是像透过玻璃似的可透视红外线显微镜。适用于封装芯片、晶圆级C...

IR透视红外线显微镜是像透过玻璃似的可透视红外线显微镜。适用于封装芯片、晶圆级CSP/SIP的非破坏检查。

非破坏观察半导体器件内部


随着不断发展的电子设备小型化、超薄化的需求,半导体器件的封装技术也高速进化。使用近红外线显微镜,可以对SiP(System in Package)、三维组装、CSP(Chip Size Package)等用可视观察无法看到的领域进行无损检查和分析。


倒装芯片封装的不良状况无损分析

在倒装芯片的焊接中,组装后的焊接部分和模块无法用可见光检查。但是,如果使用近红外线显微镜,则可以在不破坏封装的前提下,透过硅观察IC芯片内部。只要置于显微镜下,就可以轻松进行不良状况分析。对需要用FIB(Focused Ion Beam)处理位置的指定也有用。


晶圆级CSP开发的环境试验导致芯片损坏

晶圆级CSP的高温高湿试验导致器件的变化,可以用非接触方式检查。此外,还能可靠的观察铜引线部分的融解和腐蚀引起的漏电、树脂部分的剥离等。


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